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致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機雙用單站測試分類機適用於終端測試或系統(tǒng)功能測試自動進料出料艙的配置及依測試結果自動分類的功能測頭內建氣室,可吸收及減緩下壓觸力的衝擊智能型的載盤IC殘留偵測可選配的三溫控制系統(tǒng) (Standard: -40℃ ~ 135℃, Option: -55℃ ~ 150℃) 可選配的高功率冷卻系統(tǒng)理想的產品工程或研發(fā)實驗設備機
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產品分類article
相關文章品牌 | Chroma/致茂 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 電子 |
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致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機
主要特色:
3110 是一臺雙用單站的 Pick & Place 測試分類 機,支援各種不同類型封裝的晶片,如BGA, μBGA, QFP 系列, QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 類機運用 Pick & Place 技術, 將待測晶片由進料艙 移至測試區(qū),再依測試結果進行分類。3110 不 但適用于系統(tǒng)功能檢測,也同時具備終端電性測 試的能力。可綜合各元件的整體效能并執(zhí)行測試 系統(tǒng)上的所有測試程式,旨在提供一個全能的解 決方案。
支援的晶片尺寸從 3x3mm 到 55x55mm,配備有 自動進出料分類艙及手動分類盤,可蕞優(yōu)化工程 測試的實驗數量。簡易操作的操控畫面,及適配 性高的testers連接介面,大幅提升機臺的使用率 及共用性。除此之外,它能針對不同的測試環(huán)境 條件,提供數個溫控系統(tǒng)的選擇,如三溫控制系 統(tǒng)、高功率冷卻系統(tǒng)等,測試的環(huán)境溫度可設置 于常溫、高溫或低溫。
三溫變溫控制
主動熱控模組 (ATC)
高解熱溫控模組 (PTC)
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Model | Description | 詢價 |
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3110 | 雙用單站測試分類機 |
致茂Chroma 3110 雙用單站測試分類機