歡迎光臨本公司網站！不管您來我們網站是選型號還是買產品，請加一下上方手機衛(wèi)星號，保證我們提供的服務您會滿意的，因為我們是提供專業(yè)服務的。您能在茫茫網海中，找到我們這里，說明與我們很有緣分，不管結果如何，讓我們從這里開始相識、相交到相見。從此以后不管您身在何方，只要您有任何產品問題都可以向我們咨詢，我們會滿懷熱情，盡大的努力為您釋疑。您順手加個衛(wèi)星備用，以后有相關問題發(fā)一條信息給我們，我們就可以為您解答，還可以為您提出一些相關專業(yè)的參考意見。一次簡單的相遇，交一生的朋友，買賣不成情誼在，這次不成，下次還有機會：合適——您今天下單；不合適——您改天下單；來與不來——友誼在；買與不買——情義在；一年又一年，我們一直都在翹首等待您的到來！米恩科技，誠信經營，用心服務 。————深圳市米恩科技有限公司

致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統(tǒng)

主要特色：

• 50/100MHz測試工作頻率
• 1024個 I/O 通道(I/O Channel)
• 32M (64M Max.) Pattern 記憶體 (Pattern Memory)
• Per-Pin 彈性資源架構
• 512 DUTS 平行測試功能
• 96個電源通道
• 硬體規(guī)則模式產生器 (Algorithmic Pattern Generator)
• BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
• 好學易用的 WINDOWS 7作業(yè)環(huán)境
• 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
• 每片 HDADDA 混合訊號單板可支援32通道
• 彈性化的 MS C/C++ 程式語言
• 即時pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
• 測試程式/測試pattern轉換軟體(J750-EX)
• 多樣化測試分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool,Histogram tool 等
• 蕞經濟實惠的SoC和消費性混合信號晶片產品測試方案

平行測試功能

Chroma 3650-EX可在一個測試頭中，提供多 1024個數位通道，并具備高產能的平行測試功 能，蕞高可同時測試512 個待測晶片，以提升 量產效能。在Chroma 3650-EX中，每片單一的 HDLPC板擁有128個數位通道，并結合具備高效 能基礎的Pin Function (PINF) IC，每一顆 PINF IC 具備4個數位通道的時序產生器，以提供50ps 以 內的精準度。

彈性化架構

雖然半導體產業(yè)是一個變化快速的產業(yè)，但其 資產設備應建立在可符合長時間需求的設備之 上。Chroma 3650-EX在設計其架構時，應用* 的規(guī)劃，具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組、類比測試模組等等選配，以確保 符合未來多年的測試需求。另Chroma 3650-EX具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模組，可實現從 設計端至量產端使用同一PXI平臺已減少因硬體 不同所造成的測試誤差。

CRISP (軟體測試環(huán)境)

架構在Windows 7作業(yè)系統(tǒng)上的Chroma 3650-EX 的軟體測試環(huán)境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form)，是一個結合工程開發(fā)與量 產需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執(zhí)行控 制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測 試機臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的 設計，CRISP提供多樣化的開發(fā)與除錯工具，包 含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發(fā)/測試工程師開發(fā)程式時的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復任一測試 參數，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩(wěn)定度。

在量產工具的部份，透過特別為操作員所設計 的OCI (Operator Control Interface)量產平臺，生產 人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產品導 向的圖形介面操作，用來控制 Chroma 3650-EX、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者可 先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI的 各項參數，以符合生產環(huán)境的需求。而操作員所 需進行的工作，只是選擇程式設計者已規(guī)劃好的 流程，即可開始量產，大幅降低生產線上的學習 的時間。

蕞低價位的測試解決方案

要配合現今功能日趨復雜的IC晶片，需要具備功 能強大而且多樣化的測試系統(tǒng)。為了達成具成 本效益的測試解決方案，必須藉由降低測試時 間和整體成本來達成，而非只是簡單地減少測 試系統(tǒng)的價格而已。Chroma 3650-EX的設計即 是可適用于所有類型的應用環(huán)境，例如 : 工程驗 證、晶圓測試和成品測試。周邊設備。Chroma 3650-EX支援多種裝置的驅動程式介面(TTL& GPIB ) ，可進行與晶圓針測機和送料機，包括Chroma Handler、SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTITEST 、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK、OPUS II等 等裝置之間的溝通。

應用支援

不管是新客戶或是現有客戶，Chroma 均提供廣 泛的應用支援，以確保所有的設計皆能精準地符 合使用者的需求。不管使用者要快速提升生產 量、把握新興市場的機會、提高生產力、以創(chuàng)新 策略降低測試成本、或在尖峰負載情況下增加容 量，Chroma 位于的客服支援人員皆會竭盡 所能提供客戶即時解有效率的解決方案。

取得產品價格. 點選您有興趣的產品并加入詢價車, 簡單2步驟將詢價單寄給我們, 或繼續(xù)回到產品頁選取更多產品.

致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統(tǒng)