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Product Center當(dāng)前位置:首頁(yè)產(chǎn)品中心萬(wàn)用表&功率計(jì)&測(cè)溫儀5.泰克2606B泰克2606B系統(tǒng)源表
泰克2606B系統(tǒng)源表2606B 高密度 SourceMeter® SMU 儀器2606B 高密度系統(tǒng) SourceMeter (SMU) 儀器在 1U 高的機(jī)箱中提供四條 20 瓦 SMU 通道。由于制造商需要優(yōu)化占地空間并減少測(cè)試時(shí)間和成本,2606B 將密度提高 3 倍、提高吞吐量并盡量減少增加測(cè)試設(shè)備機(jī)架的需求。此 SMU 為測(cè)試激光二極管、LED、2 和 3 端子半導(dǎo)體等生產(chǎn)的理
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產(chǎn)品分類(lèi)article
相關(guān)文章品牌 | 泰克 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
泰克2606B系統(tǒng)源表
2606B 系統(tǒng)源表源測(cè)量單元(SMU) 儀器在一個(gè)外形1U 高的機(jī)箱中集成了四個(gè)20W SMU 通道。2606B 基于 吉時(shí)利第三代SMU 技術(shù),在一臺(tái)緊密集成的儀器中, 同時(shí)融合了精密電源、真實(shí)電流源、6 位半DMM、任 意波形發(fā)生器和脈沖發(fā)生器的功能。其提供了強(qiáng)大的 解決方案,明顯提升了測(cè)試效率,可以滿足苛刻的光 電器件自動(dòng)檢定和生產(chǎn)測(cè)試需求,比如3D 傳感和光通 信中使用的VCSEL/ 激光二極管、消費(fèi)品和汽車(chē)中使用 的LED 以及模擬IC、ASIC 和片上系統(tǒng)(SOC) 器件等 集成器件。在要求高SMU 通道數(shù)時(shí),多臺(tái)2606B 儀 器可以相互堆疊,在儀器之間不需要散熱空間?;?網(wǎng)絡(luò)瀏覽器的內(nèi)置軟件可以通過(guò)任何電腦,從世界上 任何地方與2606B 通信。對(duì)自動(dòng)系統(tǒng)應(yīng)用,2606B 的 測(cè)試腳本處理器(TSP®) 技術(shù)從儀器內(nèi)部運(yùn)行整個(gè)測(cè)試 程序,實(shí)現(xiàn)業(yè)內(nèi)的吞吐量。在大型多通道應(yīng)用中, 吉時(shí)利的TSP-Link® 技術(shù)與TSP 技術(shù)相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)了 高速SMU-per-pin 并行測(cè)試。在使用于新應(yīng)用時(shí), 每臺(tái)2606B SMU 的代碼都能兼容行業(yè)的Keithley 2602B 系統(tǒng)源表SMU 儀器。
主要特點(diǎn):
TSP 技術(shù),實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試及*的吞吐量
對(duì)需要zui高程度的自動(dòng)化和吞吐量的測(cè)試應(yīng)用,2606B 的TSP 技術(shù)提供了業(yè)界的性能。TSP 技術(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn) 超越傳統(tǒng)測(cè)試命令序列,它把整個(gè)測(cè)試程序全面嵌入 SMU 儀器中,然后從SMU 儀器內(nèi)部執(zhí)行整個(gè)測(cè)試程序。 這幾乎消除了總線與PC 控制器之間耗時(shí)的通信,從而 明顯改善了整個(gè)測(cè)試時(shí)間。
TSP 技術(shù)從2606B 非易失性?xún)?nèi)存中執(zhí)行整個(gè)測(cè)試程序。
TSP-Link 技術(shù),SMU-per-pin 并行測(cè)試
TSP-Link 是一種通道擴(kuò)展總線,可以讓多臺(tái)Series 2606B 實(shí)現(xiàn)互連,或與支持TSP 的其他吉時(shí)利儀器連接起來(lái),作為 一個(gè)緊密同步的多通道系統(tǒng)操作。2606B 的TSP-Link 技術(shù) 與其TSP 技術(shù)一起運(yùn)行,支持高速SMU-per-pin 并行測(cè)試。 與其他高速解決方案(如大型ATE 系統(tǒng))不同,2606B 實(shí)現(xiàn) 了并行測(cè)試性能,而沒(méi)有主機(jī)的成本或負(fù)擔(dān)?;赥SP-Link 的系統(tǒng)還實(shí)現(xiàn)了杰出的靈活性,在測(cè)試要求變化時(shí)可以快速 簡(jiǎn)便地重新配置系統(tǒng)。
TSP-Link 系統(tǒng)中的所有通道均同步到500 ns 以下。
采用TSP 和TSP-Link 技術(shù)執(zhí)行SMU-per-pin 并行或多管 腳器件測(cè)試,改善測(cè)試吞吐量,降低測(cè)試成本。
典型應(yīng)用
對(duì)各種器件進(jìn)行I-V 功能測(cè)試和表征,包括:
2606B SMU 儀器可以簡(jiǎn)便地安放和堆疊在機(jī)架系統(tǒng)中,軌道 小深度僅27 英寸(0.686 米)。
第三代SMU 儀器設(shè)計(jì),確保更快的測(cè)試時(shí)間
在Series 2600B 儀器經(jīng)過(guò)驗(yàn)證的架構(gòu)基礎(chǔ)上,2606B 的 SMU 儀器設(shè)計(jì)通過(guò)多種方式加強(qiáng)了測(cè)試速度。例如,2606B 采用已獲專(zhuān)li的系列量程拓?fù)?,提供更快、更平滑的范圍?化和輸出,其穩(wěn)定速度要更快。
2606B SMU 儀器設(shè)計(jì)支持兩種運(yùn)行模式,可以用于各種負(fù)載。 在正常模式下,SMU 儀器提供了高帶寬性能,實(shí)現(xiàn)大吞吐 量。在高電容(high-C) 模式下,SMU 儀器采用較慢的帶寬, 提供強(qiáng)健的性能及更高的容性負(fù)載。
泰克2606B系統(tǒng)源表
技術(shù)數(shù)據(jù)條件
本文包含著2606B 系統(tǒng)源表儀器的技術(shù)數(shù)據(jù)和補(bǔ)充信息。技術(shù)數(shù)據(jù)是2606B 儀器的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。在出廠時(shí),2606B 儀器均滿足 這些技術(shù)數(shù)據(jù)。補(bǔ)充數(shù)據(jù)和典型值是沒(méi)有保障的值,應(yīng)用溫度為23℃,只作為實(shí)用信息使用。技術(shù)數(shù)據(jù)適用于各個(gè)模塊。
源和測(cè)量準(zhǔn)確度針對(duì)2606B 端子的條件如下:
1. 23℃ ±5℃ , <70% 相對(duì)濕度
2. 在預(yù)熱兩個(gè)小時(shí)之后
3. 正常速度(1 NPLC)
4. 啟動(dòng)模數(shù)轉(zhuǎn)換自動(dòng)清零
5. 遠(yuǎn)端四線操作或正確清零后的兩線操作
6. 校準(zhǔn)周期:一年
DC 電源技術(shù)數(shù)據(jù)
電壓 | 電流 | |
大輸出功率和源限制1, 2 | 大20.2 W 20.2 V @ 1.0 A, -20.2 V @ -1.0 A 6.06 V @ 3.0 A, -6.06 V @ -3.0 A | 大20.2 W 1.01 A @ 20 V, -1.01 A @ -20 V 3.03 A @ 6 V, -3.03 A @ -6 V |
電壓準(zhǔn)確度指標(biāo)3, 4
源 | 測(cè)量 | ||||
范圍 | 編程分辨率 | 準(zhǔn)確度 ±(% 讀數(shù) + 伏特 ) | 典型噪聲 ( 峰峰值 ) 0.1 Hz ~ 10 Hz | 顯示分辨率 | 準(zhǔn)確度 ±(% 讀數(shù) + 伏特 ) |
100 mV | 5μV | 0.02% + 250μV | 20 μV | 100 nV | 0.015% + 150μV |
1 V | 50μV | 0.02% + 400μV | 50μV | 1μV | 0.015% + 200μV |
6 V | 50μV | 0.02% + 1.8 mV | 100μV | 1μV | 0.015% + 1 mV |
20 V | 500μV | 0.02% + 12 mV | 500μV | 10μV | 0.015% + 8 mV |
注:
1. 如需各種負(fù)載和溫度條件的其他功率額定值下降信息,請(qǐng)參閱Series 2606B 參考手冊(cè)中的“功率范圍”。
2. 系統(tǒng)源表支持第二象限和第三象限操作,但主要目標(biāo)是低功率或短瞬態(tài)行為。第二象限和第三象限操作可能會(huì)導(dǎo)致溫度過(guò)高錯(cuò)誤。
3. 對(duì)0℃ ~ 18℃和28℃ ~ 50℃溫度,準(zhǔn)確度劣化±(0.15 × 準(zhǔn)確度指標(biāo))/℃。
4. HI 引線每下跌1V,源準(zhǔn)確度指標(biāo)加50 μV。
電流準(zhǔn)確度指標(biāo)3
源 | 測(cè)量 | ||||
范圍 | 編程分辨率 | 準(zhǔn)確度 ±(% 讀數(shù) + 安培 ) | 典型噪聲 ( 峰峰值 ) 0.1 Hz ~ 10 Hz | 顯示分辨率 | 準(zhǔn)確度 5 ±(% 讀數(shù) + 安培 ) |
100 nA | 2 pA | 0.06% + 100 pA | 5 pA | 100 fA | 0.05% + 100 pA |
1μA | 20 pA | 0.03% + 800 pA | 25 pA | 1 pA | 0.025% + 500 pA |
10μA | 200 pA | 0.03% + 5 nA | 60 pA | 10 pA | 0.025% + 1.5 nA |
100μA | 2 nA | 0.03% + 60 nA | 3 nA | 100 pA | 0.02% + 25 nA |
1 mA | 20 nA | 0.03% + 300 nA | 6 nA | 1 nA | 0.02% + 200 nA |
10 mA | 200 nA | 0.03% + 6mA | 250 nA | 10 nA | 0.02% + 2.5mA |
100 mA | 2mA | 0.03% + 30mA | 600 nA | 100 nA | 0.02% + 20mA |
1 A | 20mA | 0.05% + 1.8 mA | 70 μA | 1mA | 0.03% + 1.5 mA |
3 A | 20mA | 0.06% + 4 mA | 150 μA | 1mA | 0.05% + 3.5 mA |
補(bǔ)充特點(diǎn)
以下指標(biāo)是補(bǔ)充特點(diǎn),提供了與儀器功能和性能有關(guān)的進(jìn)一步信息。這些特點(diǎn)指標(biāo)沒(méi)有保障,描述了2606B 的典型性能。
其他源特點(diǎn)
噪聲
10 Hz ~ 20 MHz < 20 mV 峰峰值, < 3 mV RMS, 6 V 范圍
小可編程脈寬 6, 7
100ms
注:I/V 輸出和負(fù)載一定時(shí),穩(wěn)定源的小脈寬可能會(huì)長(zhǎng)于100 ms。
源值 | 負(fù)載 | 源穩(wěn)定時(shí)間 (% 的范圍 ) | 小脈寬 |
6 V | 2W | 0.2% | 150μs |
3 A | 2W | 0.2% | 150μs |
注:
3. 對(duì)0℃ ~ 18℃和28℃ ~ 50℃溫度,準(zhǔn)確度劣化±(0.15 × 準(zhǔn)確度指標(biāo))/℃。
5. 通過(guò)提高誤差項(xiàng),NPLC 設(shè)置<1 的準(zhǔn)確度指標(biāo)會(huì)下降。使用下表,為阻性負(fù)載增加讀取項(xiàng)的相應(yīng)百分比。
NPLC 穩(wěn)定 | 200 mV 范圍 | 2 V-200 V 范圍 | 100 nA 范圍 | 1mA-100 mA 范圍 | 1 A-1.5 A 范圍 |
0.1 | 0.01% | 0.01% | 0.01% | 0.01% | 0.01% |
0.01 | 0.08% | 0.07% | 0.1% | 0.05% | 0.05% |
0.001 | 0.8% | 0.6% | 1% | 0.5% | 1.1% |
6. 從脈沖開(kāi)始到結(jié)束的時(shí)間,參見(jiàn)下圖。
7. 源穩(wěn)定設(shè)置成SETTLE_SMOOTH_100NA。
產(chǎn)品技術(shù)資料
脈寬編程分辨率
1μs
脈寬編程準(zhǔn)確度
±5μs
脈寬抖動(dòng)
2μs
瞬態(tài)響應(yīng)時(shí)間
對(duì)負(fù)載10% ~ 90% 步長(zhǎng)變化,輸出恢復(fù)到0.1% 以?xún)?nèi)為<70ms。
過(guò)沖
電壓: <±0.1% 的范圍 + 10 mV。步長(zhǎng) = 10% ~ 90% 的范圍,阻性負(fù)載,大電流極 限/ *性。
電流: <±0.1% 的范圍。步長(zhǎng) = 10% ~ 90% 的范圍,阻性負(fù)載。參見(jiàn)電流源輸出穩(wěn)定時(shí) 間,了解其他測(cè)試條件。
量程變化過(guò)沖
電壓: <300 mV + 0.1% 的更大范圍。100 kW 負(fù)載過(guò)沖,20 MHz 帶寬。
電流7: <300 mV/R 負(fù)載+ 5% 的較大范圍
保護(hù)偏置電壓
<4 mV, 電流<10 mA
遠(yuǎn)端四線工作范圍8
HI 和SENSE HI 之間的大電壓= 3 V
LO 和SENSE LO 之間的大電壓 = 3 V
大輸出電壓
20 V 范圍: 大輸出電壓 = 22 V - ( 經(jīng)過(guò)源引線的總電壓下跌)。大1W 源引線。
6 V 范圍: 大輸出電壓 = 8 V - ( 經(jīng)過(guò)源引線的總電壓下跌)。大1W 源引線。
溫度過(guò)高保護(hù)
內(nèi)部傳感溫度過(guò)載時(shí),會(huì)把儀器置于待機(jī)模式。
極限/ *性
雙極極限( *性) 使用一個(gè)值設(shè)置。
電壓: 小值是10 mV;準(zhǔn)確度與電壓源相同。
電流: 小值是10 nA;準(zhǔn)確度與電流源相同。
電壓源輸出穩(wěn)定時(shí)間
在固定范圍上處理源電平命令后達(dá)到終值0.1% 內(nèi)要求的時(shí)間。
電壓范圍 | 穩(wěn)定時(shí)間 |
100mV | < 50μs |
1 V | < 50μs |
10 V | < 110μs |
20 V 9 | < 150μs |
電壓源輸出穩(wěn)定時(shí)間
在固定范圍上處理源電平命令后達(dá)到終值0.1% 內(nèi)要求的時(shí)間。
電流范圍 | 穩(wěn)定時(shí)間 |
3 A | < 80μs ( 電流 < 2.5 A, R 負(fù)載 > 2W) |
1 A ~10mA | < 80μs (R 負(fù)載 > 6W) |
1μA | < 100μs |
100 μA | < 150μs |
10 μA | < 500μs |
1 μA | < 2ms |
100 nA | < 20ms |
注:
7. 源穩(wěn)定設(shè)置成SETTLE_SMOOTH_100NA
8. 每伏特HI 引線下跌在源準(zhǔn)確度指標(biāo)中增加50μV。
9. 在1 A 范圍上測(cè)量時(shí)增加150μs。
其他測(cè)量特點(diǎn)
電流測(cè)量穩(wěn)定時(shí)間 10
在固定量程上到達(dá)設(shè)置值 0.1% 內(nèi)的時(shí)間。下面的值適用于 Vout = 1 V。
電流范圍 | 穩(wěn)定時(shí)間 |
1 mA | < 100μs |
輸入阻抗
> 10 GΩ
其他特點(diǎn)
大負(fù)載阻抗
正常模式 10 nF。高電容模式 50 μF。
共模電壓
250 VDC
共模隔離度
>1 Gμ, < 4500 pF
傳感高輸入阻抗
>10 Gμ
大傳感引線電阻
對(duì)額定準(zhǔn)確度為 1 kμ
這量程
源范圍的 101%。測(cè)量范圍的 102%。
測(cè)量速度特點(diǎn) 11, 12
大掃描操作速率 ( 每秒操作次數(shù) ),60 Hz (50 Hz)
模數(shù)轉(zhuǎn)換器速 度 (NPLC) | 觸發(fā) | 測(cè)量到內(nèi)存 ( 使用用戶(hù)腳本) | 測(cè)量到 USB ( 使用用戶(hù)腳本) | 源測(cè)量到內(nèi)存 ( 使用用戶(hù)腳本) | 源測(cè)量到 USB ( 使用用戶(hù)腳本) | 源測(cè)量到內(nèi)存 ( 使用掃描API) | 源測(cè)量到 USB ( 使用掃描API) |
0.001 | 內(nèi)部 | 20000 (20000) | 9800 (9800) | 7000 (7000) | 6200 (6200) | 12000 (12000) | 5900 (5900) |
0.001 | 數(shù)字 I/O | 8100 (8100) | 7100 (7100) | 5500 (5500) | 5100 (5100) | 11200 (11200) | 5700 (5700) |
0.01 | 內(nèi)部 | 4900 (4000) | 3900 (3400) | 3400 (3000) | 3200 (2900) | 4200 (3700) | 4000 (3500) |
0.01 | 數(shù)字 I/O | 3500 (3100) | 3400 (3000) | 3000 (2700) | 2900 (2600) | 4150 (3650) | 3800 (3400) |
0.1 | 內(nèi)部 | 580 (480) | 560 (470) | 550 (465) | 550 (460) | 560 (470) | 545 (460) |
0.1 | 數(shù)字 I/O | 550 (460) | 550 (460) | 540 (450) | 540 (450) | 560 (470) | 545 (460) |
1.0 | 內(nèi)部 | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) |
1.0 | 數(shù)字 I/O | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) | 59 (49) |
注: 10. *性測(cè)試等于 100 mA。
11. 使用下述設(shè)備執(zhí)行測(cè)試:電腦硬件— Intel® CoreTM i7, 2.90 GHz, 8 GB RAM;軟件 — Microsoft® Windows® 10 Enterprise 64 位 , Microsoft® Visual Studio® 2010, VISATM 第 5.8 版。
12. 不包括 <1 mA 的電流測(cè)量范圍。
大單次測(cè)量速率 ( 每秒操作次數(shù) ),60 Hz (50 Hz)
模數(shù)轉(zhuǎn)換器速度 (NPLC) | 觸發(fā) | 測(cè)量到 USB | 源測(cè)量到 USB | 源測(cè)量通過(guò) / 失敗到 USB |
0.001 | 內(nèi)部 | 1900 (1800) | 1400 (1400) | 1400 (1400) |
0.01 | 內(nèi)部 | 1450 (1400) | 1200 (1200) | 1100 (1100) |
0.1 | 內(nèi)部 | 450 (390) | 425 (370) | 425 (375) |
1.0 | 內(nèi)部 | 58 (48) | 57 (48) | 57 (48) |
大測(cè)量范圍變化速率
>7000 次 / 秒,>10μA。在變到或從范圍≥ 1 A 變化時(shí),大速率是 >2200 次 / 秒
大源范圍變化速率
>400 次 / 秒,>10μA。在變到或從范圍≥ 1 A 變化時(shí),大速率是 >190 次 / 秒。
大源功能變化速率
>>1000 次 / 秒
命令處理時(shí)間
<1 ms。在收到 smua.source.levelv 或 smua.source.leveli com 命令后,輸出開(kāi)始變化要求的大時(shí)間。
觸發(fā)和同步特點(diǎn)
觸發(fā)
觸發(fā)輸入到觸發(fā)輸出 0.5μs
觸發(fā)輸入到源變化13 10μs
觸發(fā)定時(shí)器準(zhǔn)確度 ±2μs
LXI 觸發(fā)后源變化 280μs
同步
多節(jié)點(diǎn)同步源變化13 < 0.5μs
單節(jié)點(diǎn)同步源變化13 < 0.5μs
注: 13. 固定源范圍,極性無(wú)變化。
補(bǔ)充信息
編程
可以從任何主機(jī)接口訪問(wèn)嵌入式測(cè)試腳本處理器 (TSP®) 腳本引擎: 對(duì)單條儀器控制命令作出響應(yīng)對(duì)高速測(cè)試腳本作出響應(yīng),包括遠(yuǎn)程命令和測(cè)試腳本語(yǔ)言 (TSL) 語(yǔ)句 ( 如分支、循環(huán)和數(shù)學(xué) ) 能夠執(zhí)行內(nèi)存中存儲(chǔ)的高速測(cè)試腳本,而不需主機(jī)干預(yù)
可用的小內(nèi)存
16 MB ( 約 250,000 行 TSP 代碼 )
Test Script Builder( 測(cè)試腳本構(gòu)建程序 )
用來(lái)構(gòu)建、運(yùn)行和管理 TSP 腳本的集成開(kāi)發(fā)環(huán)境,包括一個(gè)儀器控制臺(tái),用來(lái)與支持 TSP 的任何儀器交互通信。如需了解要求,請(qǐng)參閱 Test Script Builder 文檔資料.
軟件界面
使用 Microsoft® Visual Basic®, Visual C/C++®, Visual C#®, LabVIEWTM, CEC TestPointTM數(shù)據(jù)采集軟件包 , NI LabWindowsTM/CVI 等進(jìn)行讀 / 寫(xiě)。
讀取緩沖器
非易失性?xún)?nèi)存使用為測(cè)量數(shù)據(jù)預(yù)留的存儲(chǔ)區(qū)域。讀取緩沖器是由測(cè)量單元組成的陣列。每個(gè)單元可以存儲(chǔ)以下項(xiàng)目:
測(cè)量
源設(shè)置 ( 在獲取測(cè)量數(shù)據(jù)時(shí) )
測(cè)量狀態(tài)
范圍信息
時(shí)間標(biāo)記
可以使用前面板 STORE 密鑰填充讀取緩沖器,使用 RECALL 密鑰或主機(jī)接口進(jìn)行檢索。
緩沖器容量,有時(shí)間標(biāo)記和源設(shè)置時(shí) >60,000 個(gè)樣點(diǎn)
緩沖器容量,沒(méi)有時(shí)間標(biāo)記和源設(shè)置時(shí) >140,000 個(gè)樣點(diǎn)
系統(tǒng)擴(kuò)容
TSP-Link 擴(kuò)展接口允許支持 TSP 的儀器觸發(fā)及相互通信。參見(jiàn)下表。
2606B 有四個(gè) TSP-Link 連接器 ( 每個(gè)模塊上兩個(gè) ),可以更簡(jiǎn)便地順序連接多臺(tái)儀器。 源測(cè)量?jī)x器一旦通過(guò) TSP-Link 擴(kuò)展接口互連,那么電腦可以通過(guò)任何系統(tǒng)源表的主機(jī)接口訪問(wèn)每臺(tái)源測(cè)量?jī)x器的所有資源。 多可以互連 32 個(gè) TSP-Link 節(jié)點(diǎn)。每個(gè)源測(cè)量模塊使用一個(gè) TSP-Link 節(jié)點(diǎn)。
定時(shí)
定時(shí)器: 自由運(yùn)行 47 位計(jì)數(shù)器,帶有 1 MHz 時(shí)鐘輸入。每次在儀器開(kāi)機(jī)時(shí)都會(huì)復(fù)位。如果儀器沒(méi)有開(kāi)機(jī),定時(shí)器會(huì)每四年一次自動(dòng)復(fù)位為零 (0)。
時(shí)間標(biāo)記: 在每次觸發(fā)測(cè)量時(shí)會(huì)自動(dòng)保存 TIMER 值。
分辨率: 1μs
時(shí)間標(biāo)記準(zhǔn)確度: ±100 ppm
整體技術(shù)數(shù)據(jù)
以太網(wǎng) RJ-45 連接器 , LXI 第 1.4 版 Core 2011, 10/100BaseT, Auto-MDIX
LXI 標(biāo)準(zhǔn)
LXI 第 1.4 版 Core 2011
擴(kuò)展接口
TSP-Link® 擴(kuò)展接口允許支持 TSP 的儀器觸發(fā)及相互通信。
電纜類(lèi)型:超五類(lèi)或以上的局域網(wǎng)交叉電纜。
支持 TSP 的每臺(tái)儀器之間遠(yuǎn) 9.84 英尺 (3 米 )。
USB 控制
USB 2.0 設(shè)備 : USB-TMC488 協(xié)議
USB 文件系統(tǒng)
USB 2.0 主控 : 海量存儲(chǔ)級(jí)設(shè)備
電源
100 VAC ~ 240 VAC, 50 Hz 或 60 Hz ( 自動(dòng)傳感 ), 425 VA 大值
冷卻
強(qiáng)制通風(fēng);前面和側(cè)面進(jìn)風(fēng),后面出風(fēng)
保修:一年
EMC
滿足歐盟 EMC 指令
安全
NRTL 列入 UL61010-1 和 CSA C22.2 No 61010-1。滿足歐盟低壓指令。
環(huán)境
僅用于室內(nèi)
高度 : zui高海拔 6562 英尺 (2000 米 )。
工作時(shí):0℃ ~ 50℃。35℃以下時(shí) 70% 相對(duì)濕度,35℃ ~ 50℃時(shí)相對(duì)濕度每° C 下降 3%。
貯存:-25℃ ~ 65℃
外觀尺寸
機(jī)架安裝:1.7 英寸高 × 19 英寸寬 × 26.8 英寸深 (44 mm × 483 mm × 680 mm)
重量
13.6 公斤 (30 磅 )
數(shù)字 I/O 接口
連接器 : 25 針孔式 D 型連接件
輸入 / 輸出針 : 14 個(gè)開(kāi)路漏極 I/O 位
大輸入電壓 : 5.25 V
小輸入電壓 : -0.25 V
大邏輯低輸入電壓 : 0.7 V, +850μA 大值
小邏輯高輸入電壓 : 2.1 V, +570μA
大源電流 ( 流出數(shù)字 I/O 位 ): +960μA
大邏輯低電壓 (0.7 V) 時(shí)的大吸收電流 : -5.0 mA
大吸收電流 ( 流入數(shù)字 I/O 針 ): -11 mA
5 V 電源針 : 限于 250 mA, 固態(tài)熔絲保護(hù)
輸出啟用 : 使用 10 k? 電阻器在內(nèi)部把活動(dòng)高輸入牽引到接地;在激活輸出啟用輸入功能時(shí),每條源表通道不會(huì)打開(kāi),除非輸出啟用針驅(qū)動(dòng)到 >2.1 V ( 標(biāo)稱(chēng)電流 = 2.1 V / 10 k? = 210μA)。
訂貨信息
2606B: 4 通道系統(tǒng)源表 SMU 儀器
隨機(jī)所帶附件
操作人員手冊(cè)和編程手冊(cè)
CA-180-16
局域網(wǎng)交叉電纜 , 0.41 米 (16 英寸 ) ( 帶有兩條 )
174710700
屏蔽五類(lèi)交叉電纜 , 用于 TSP-Link 和直接以太網(wǎng)連接 , 1.5 m (5 英尺 )
CA-568
綠色和黃色接地電纜 , 3 m (120 英寸 )
2600-KIT
8 針定制電纜連接器 , 電纜盒 , 應(yīng)力減緩裝置 ( 帶有 4 個(gè) )
7709-308A
25 針 D-shell 連接器套件 ( 用于數(shù)字 I/O 端口 ) ( 帶有 2 個(gè) )
4299-13
1U 固定機(jī)架安裝套件 ( 要求軌道深度低 0.686m (27 英寸 ))
電源線
視不同國(guó)家而定
選配附件
電纜和連接器
2600-BAN
香蕉頭測(cè)試電纜 / 轉(zhuǎn)接頭電纜
2600-KIT
額外的螺絲接線片連接器 , 應(yīng)力減緩裝置 , 保護(hù)罩
2600-FIX-TRIAX
Phoenix 到三同軸轉(zhuǎn)接頭 , 用于 2 線傳感
2600-TRIAX
Phoenix 到三同軸轉(zhuǎn)接頭 , 用于 4 線傳感
7078-TRX-*
3 插槽低噪聲三同軸電纜 , 0.3 m-6.1 m。用于 2600-TRIAX 轉(zhuǎn)接頭 * = 1, 3, 5, 10, 12, 20 ( 分別用于 0.3 m, 0.9 m, 1.5 m, 3.0 m, 3.5 m, 6.0 m)
7078-TRX-GND
3 插槽針式三同軸到 BNC 轉(zhuǎn)接頭 ( 去掉保護(hù) )
7709-308A
數(shù)字 I/O 連接器 ( 視具體型號(hào)而定 )
8606
高性能模塊化探頭套件 , 用于 2600B-BAN
數(shù)字 I/O、Trigger Link 和 TSP-Link
2600-TLINK
數(shù)字 I/O 到 TLINK 轉(zhuǎn)接頭電纜 , 1 m
CA-126-1A
數(shù)字 I/O 和觸發(fā)電纜 , 1.5 m
174710700
屏蔽五類(lèi)交叉電纜 , 用于 TSP-Link 和直接以太網(wǎng)連接 , 1.5 m (5 英尺 )
可選服務(wù)
延保
2606B-EW
把 1 年出廠保修延至 2 年
2606B-3Y-EW
把 1 年出廠保修延至 3 年
2606B-5Y-EW
把 1 年出廠保修延至 5 年
校準(zhǔn)合同
C/2606B-3Y-STD
三年內(nèi)校準(zhǔn)三次
C/2606B-5Y-STD
五年內(nèi)校準(zhǔn)五次
C/2606B-3Y-DATA
三年內(nèi)校準(zhǔn)三次,包括調(diào)節(jié)前和調(diào)節(jié)后的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)C/2606B-5Y-DATA 五年內(nèi)校準(zhǔn)五次,包括調(diào)節(jié)前和調(diào)節(jié)后的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)C/2606B-3Y-17025 三年內(nèi)進(jìn)行三次 IS0-17025 認(rèn)可的校準(zhǔn)
C/2606B-5Y-17025
五年內(nèi)進(jìn)行五次 IS0-17025 認(rèn)可的校準(zhǔn)
保修信息
保修摘要
本節(jié)概括介紹了 Series 2606B 保修。如需完整的保修信息,請(qǐng)參閱 Series 2606B 參考手冊(cè)。非吉時(shí)利制造的任何產(chǎn)品部分均不享受本保修,吉時(shí)利沒(méi)有義務(wù)為任何其他制造商提供保修。
硬件保修
吉時(shí)利儀器公司保證,吉時(shí)利制造的硬件部分一年內(nèi)在材料或工藝上沒(méi)有缺陷,前提是這類(lèi)缺陷不是因?yàn)槲锤鶕?jù)硬件說(shuō)明使用吉時(shí)利硬件而引起的。此擔(dān)保不適用于客戶(hù)對(duì)吉時(shí)利硬件所作的任何修改,或在環(huán)境指標(biāo)之外運(yùn)行硬件。
軟件保修
吉時(shí)利保證,吉時(shí)利生產(chǎn)的軟件或固件部分在90 天內(nèi)在所有材料方面均滿足公布的技術(shù)數(shù)據(jù), 前提是該軟件根據(jù)軟件說(shuō)明用于預(yù)計(jì)的產(chǎn)品上。吉時(shí)利不保證軟件操作不會(huì)中斷或沒(méi)有錯(cuò)誤, 也不保證軟件足以滿足客戶(hù)的預(yù)計(jì)應(yīng)用。此擔(dān)保不適用于客戶(hù)對(duì)該軟件所作的任何修改。